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臺(tái)式電鏡是一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制等技術(shù)。是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過多級(jí)電磁透鏡匯集成細(xì)小（直徑一般為1~5nm）的電子束（相應(yīng)束流為10-11~10-12A）。在末級(jí)透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描（行掃+幀掃）。入射電子與試樣相互作用會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。這些信息的二維強(qiáng)度分布隨著試樣表面的特征而變化（這些特征有表面形貌、成分、晶體取向、電磁特性等等），將各種探...

鎢燈絲電鏡的低壓性能與與臺(tái)式電子顯微鏡不兼容的更多樣品*兼容。其低電壓性能非常有限，并且不能與大多數(shù)非導(dǎo)電樣品兼容。蔡司傳統(tǒng)的鎢絲掃描電子顯微鏡的加速電壓為0.2-30kV，電子束電流范圍為0.5pA-5uA。它的低電壓性能遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過臺(tái)式電子顯微鏡，并且具有低真空模式。它與導(dǎo)電樣品，非導(dǎo)電樣品和電子束*兼容。輻射敏感樣品，含水或除氣的樣品等。同時(shí)，獲取樣品的表面信息(無論是表面成像還是能譜)，可以為您顯示清晰樣品表面細(xì)節(jié)。燈絲是臺(tái)式掃描電鏡（SEM）重要的模塊之一。它的目的是提...

鎢燈絲電鏡剛到手時(shí)表面可能吸附一定量的空氣、水汽，當(dāng)它被安裝到電鏡鏡筒里時(shí)，會(huì)從燈絲表面緩緩釋放，影響鏡筒的真空度，腐蝕燈絲。因此，新燈絲在更換前要先經(jīng)過“去潮、去氣”處理，可在45℃電熱箱內(nèi)放置數(shù)小時(shí)，然后放入透射電鏡底片抽氣室預(yù)抽氣數(shù)小時(shí)以除去新燈絲上吸附的殘余空氣和水汽。如何延長鎢燈絲電鏡的使用壽命，主要有以下措施：1.準(zhǔn)確對(duì)中燈絲安裝、更換新燈絲時(shí)仍需檢查燈絲的對(duì)中情況，建議將安裝好的燈絲組件放在解剖鏡下再檢查一下，看燈絲是否居中，否則很容易導(dǎo)致燈絲亮度偏暗，而由此操...

纖維素結(jié)晶度是指纖維素結(jié)晶區(qū)所古纖維素整體的百分率。隨著結(jié)晶度的增加，纖維的抗拉強(qiáng)度、彈性模量等隨之增加。高溫環(huán)境XRD高溫?zé)崽幚韺?duì)馬尾松試材晶面衍射峰位置、纖維素結(jié)晶度及結(jié)晶區(qū)寬度的影響規(guī)律。與對(duì)照材相比，經(jīng)過不同溫度和時(shí)間的高溫?zé)崽幚砗螅静睦w維素晶面衍射峰的位置都在22.40附近（介于22.24~22.50）。這表明高溫?zé)崽幚韺?duì)木材結(jié)晶區(qū)沒有形成明顯影響，即沒有改變晶層的距離。但高溫?zé)崽幚韺?duì)馬尾松木材結(jié)晶度的影響較明顯，當(dāng)溫度為160、180、200、220℃時(shí)，處理材...

高溫環(huán)境XRD是進(jìn)行X射線分析的重要設(shè)備，主要由X射線發(fā)生器、測角儀(測量角度2θ的裝置)、記錄儀(測量X射線強(qiáng)度的計(jì)數(shù)裝置)和水冷卻系統(tǒng)組成。新型的衍射儀還帶有條件輸入和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。主要由高壓控制系統(tǒng)和X光管組成，它是產(chǎn)生X射線的裝置(產(chǎn)生X射線的裝置)，由X光管發(fā)射出的X射線包括連續(xù)X射線光譜和特征X射線光譜，連續(xù)X射線光譜主要用于判斷晶體的對(duì)稱性和進(jìn)行晶體定向的勞埃法，特征X射線用于進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)研究的旋轉(zhuǎn)單體法和進(jìn)行物相鑒定的粉末法。高溫環(huán)境XRD使用：（1）當(dāng)材料由...

臺(tái)式電鏡是近代發(fā)展很快、用途日益廣泛的重要電子光學(xué)儀器之一。現(xiàn)已很接近于透射電鏡的分辨率，而且大多數(shù)掃描電鏡都能同X射線波譜分析儀、X射線能譜儀和自動(dòng)圖像分析儀等組合，使得它是一種對(duì)表面微觀世界能夠進(jìn)行全面分析的多功能的電子光學(xué)儀器。從儀器的角度，提高臺(tái)式電鏡的分辨率主要有如下途徑：1.降低透鏡的球像差以獲得小的電子束斑尺寸掃描電子像的分辨率在一定程度上取決于電子束斑的尺寸。電子束斑的尺寸越小，相應(yīng)圖像的分辨率越高。但是電子束斑的尺寸是受透鏡球像差的影響。對(duì)于一定的透鏡系統(tǒng)來...

目前主流的SEM掃描電鏡鏡筒是電子槍室和由6-8級(jí)成像透鏡以及觀察室等組成。陰極燈絲在燈絲加熱電流作用下發(fā)射電子束，該電子束在陽極加速高壓的加速下向下高速運(yùn)動(dòng)，經(jīng)過一聚光鏡和第二聚光鏡的會(huì)聚作用使電子束聚焦在樣品上，透過樣品的電子束再經(jīng)過物鏡、一中間鏡、第二中間鏡和投影鏡四級(jí)放大后在熒光屏上成像。電鏡總的放大倍數(shù)是這四級(jí)放大透鏡的放大倍數(shù)的乘積，因此透射電鏡有著更高的放大范圍（200×-1500000×）。SEM掃描電鏡的設(shè)計(jì)思想和工作原理早在1935年便已被提出來了。194...