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高光譜成像技術是基于非常多窄波段的影像數據技術，它將成像技術與光譜技術相結合，探測目標的二維幾何空間及一維光譜信息，獲取高光譜分辨率的連續、窄波段的圖像數據。高光譜成像技術發展迅速，常見的包括光柵分光、聲光可調諧濾波分光、棱鏡分光、芯片鍍膜等。可以應用在食品安全、醫學診斷、航天領域等領域。與其他光譜成像—樣，高光譜成像收集和處理來自電磁波譜的信息。目標是獲得場景圖像中每個像素的光譜，可用于尋找物體，識別材料或檢測過程。其光譜成像有兩種，其一是推掃式掃描，它能夠隨著時間的推移讀...

煤巖分析系統是一種用于冶金工程技術領域的分析儀器，用于巖礦、石油顯微組織的觀察與分析以及煤炭的反射率及焦炭組分分析。其優點有哪些？(1)測定速度快：每分鐘測定1000點；(2)測定點數多：至少測定1萬點；(3)測定省時省力；(4)不受人為因素干擾，測定結果客觀公正；(5)測定符合統計規律，測定結果重現性與再現性都優于有關國家標準；(6)可滿足焦化企業應用中快速、代表性好等要求；(7)可發現人工或半自動測定由于測點少，不能測定到少量混入成分的問題；Fossil全自動煤巖分析系統...

普通掃描電鏡基于高能電子束與樣品表面相互作用，采用信號檢測系統獲得樣品反饋信號，并通過數字轉換器處理并重建圖像。這種原理使SEM具有高分辨率、高靈敏度和高定量性等優點。普通掃描電鏡使用注意事項：1.操作時需要穿戴防護設備，確保個人安全；2.在操作時應注意鏡頭、樣品和設備的清潔和維護，保持其良好狀態。1.準確的電鏡使用方法和規范的操作流程可以延長電鏡的使用壽命和提高工作效率。2.要定期進行電鏡的清潔和維護，特別是鏡頭、樣品臺、探針等部件，使用專業清潔劑進行清潔。3.電鏡放置在干...

X射線粉末衍射儀主要用于研究物質晶體結構、物相分析、測定點陣參數等，廣泛用于大中專院校、科研單位及工礦企業實驗室。主要用于研究物質晶體結構、物相分析、測定點陣參數等，廣泛用于大中專院校、科研單位及工礦企業實驗室。主要用途：1、可對各種多晶樣品進行物相定性與定量分析及結構分析。2、分峰和譜圖擬合及晶胞參數、晶粒尺寸、結晶度測定等。3、本儀器除進行常規粉末物質檢測外，該儀器在化學、物理材料、生物及礦物學領域均有廣泛應用。4、儀器配置附件可進行原位反應物相分析、粒徑分析、纖維取向分...

低溫環境XRD是一種常用的材料研究手段，可以用于檢測材料的晶體結構、物相組成、晶格缺陷等信息。原理基于物質在低溫下會發生晶格結構的變化，這種變化可以通過X射線衍射分析來檢測。具體而言，當物質受到X射線照射時，X射線會穿過物質并產生衍射。衍射信號的強度取決于物質的晶體結構，晶體結構的變化會導致衍射信號的強度發生變化。通過對衍射信號的分析，可以推斷出物質的晶體結構、物相組成、晶格缺陷等信息。在材料科學領域有廣泛的應用。例如，在陶瓷材料、高分子材料、金屬材料等領域，低溫環境下X射線...

原子力顯微鏡AFM是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。主要用途：材料表面形貌的觀察和分析；對生物細胞的表面形態觀察；生物大分子的結構及其他性質的觀測研究；生物分子間力譜曲線的觀測。原子力顯微鏡受工作環境限制較少，它可以在超高真空、氣相、液相和電化學的環境下操作。（1）真空環境：最早的掃描隧道顯微鏡（STA）研究是在超高真空下進行操作的。后來，隨著AFM...

鎢燈絲電鏡(TungstenFilamentElectronMicroscopy，WEM)是一種常見的透射電鏡(TEM)，利用結晶或非晶樣品所產生的散射證據來分析材料結構。電子束被放射出來，經過聚焦實現功能的集成電路(ASIC)后聚焦到樣品上，然后在樣品上發生彈性和非彈性碰撞。不同反射角度的電子會產生不同強度的暗場和亮場效果，提供了微觀結構的信息。如何使用鎢燈絲電鏡？1.準備完整設備，將標本拍攝模塊安裝到鎢絲爐板下方。2.使用純酸和去離子水清洗標本，防止在取樣時污染標本。3....